Um dieses Ziel zu erreichen kombinierten Lukas Walch, Thomas Klünsner, Bernhard Sartory, Stefan Marsoner, Larissa Egger und Gerald Ressel vom MCL in Zusammenarbeit mit Forschern des Erich-Schmid-Instituts und der voestalpine BÖHLER Edelstahl GmbH & Co. KG Techniken zur Charakterisierung von Stahl und Mikroelektronik.
Das Ergebnis: Eine ausgeklügelte Prüftechnik, mit der das MCL das Wachstum mikroskopisch kleiner, in allen Werkzeugen präsenter Risse mit Drähten beobachten kann, die dünner als ein menschliches Haar sind. Mit dieser neuartigen Technik konnten unsere Forscher zeigen, dass herkömmliche Prüftechniken nach wie vor für die Charakterisierung im Makrobereich geeignet sind – um jedoch das Wachstum eines Risses innerhalb eines einzelnen Korns oder einzelner Gefügebestandteile zu beobachten, benötigt man dünne Drähte (und starke Nerven bei der Probenvorbereitung).
Link zum Artikel: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0142112325005109?via%3Dihub
