(Lokale) Chemische Analytik im Elektronenmikroskop:

Methoden

• EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) – bis 50 nm laterale Messauflösung und fensterlosen Detektoren für leichte Elemente
  Schnell, qualitative & quantitative Elementanalyse, Punktanalysen & Elementverteilungsbilder.
• WDX (Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy)
  Höchste Auflösung & Nachweisgrenzen, präzise Quantifizierung.
• FIB-SIMS (Focused Ion Beam – Secondary Ion Mass Spectrometry)
  Tiefenprofile, Spurenelemente, isotopenspezifische Analyse, 3D-Chemie.
• Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF)
  zerstörungsarm, größere Analysevolumina, Elementverteilungsbilder bis Spurenniveau.

Anwendungsbereiche

Phasencharakterisierung und Ausscheidungsanalysen

• Identifikation von carbidischen, nitridischen und intermetallischen Ausscheidungen
  (z. B. Cr-Carbide in Edelstählen, Al-Mg-Si-Ausscheidungen in Al-Legierungen)
• Analyse der Ausscheidungsgrößen, -verteilung, -chemie
• Nachweis von nicht-erwünschten Phasen (σ-Phase, Laves-Phase, Widmannstätten-Strukturen)

Partikel-, Einschluss- & Reinheitsgradanalytik

• Chemische Bewertung von Verunreinigungen wie nichtmetallischen Einschlüssen (MnS, diverse Oxide wie Al₂O₃, SiO₂)
• Automatisierte Partikelgrößen- & Verteilungsanalyse
• Bewertung des Stahlreinheitsgrades gemäß Standards (z. B. DIN/ASTM)
• Untersuchung von Fremdpartikeln in Stahl-, Guss- und Walzprozessen
• Bestimmung von Abplatzungen, Verschleißfragmenten, Abrasionsteilchen

Lokale Gefüge- und Mikrostrukturuntersuchungen

• Chemische Analyse einzelner Gefügebestandteile (heterogene Werkstoffe, z.b. Hartmetall)
• Ermittlung von Seigerungen und Mikrosegregationen (z. B. Cr-, Mo-, Nb-Seigerungen)
• Korrelative Analyse Mikrostruktur ↔ Chemische Zusammensetzung
• Identifikation lokaler Korrosionsauslöser (MnS, intermetallische Partikel, Fremdpartikel)

Schichteigenschaften & Schichtaufbau

• Analyse von Mehrschichtsystemen (Galvanik, PVD, CVD, thermische Spritzschichten)
• Bestimmung von Schichtdicken, Diffusionszonen, Zusammensetzungsverläufen
• Detektion von Elementanreicherungen (z. B. Cr verarmte Bereiche)
• Untersuchung von Passivschichten, Oxiden und Korrosionsprodukten

Oberflächenmodifikation

• Chemische Bewertung von Nitrier-, Carbonitrier- und Boridierungsschichten
• Analyse von Beschichtungshaftung, Grenzflächen, Delamination
• Untersuchung lokaler Härtegradienten durch Elementverteilung (C, N-Diffusion)

Tiefenprofilierung & nano-skalige Analyse (FIB-SIMS)

• Sub-µm Tiefenprofile von Beschichtungen, Diffusionsschichten, etc.
• Nachweis von Spuren- & Leichtelementen (z. B. H, Li, B, N)
• Analyse von lokalen Verunreinigungen im ppm-Bereich
• Untersuchung von Wasserstoffversprödung (H-Mapping)