Time Domain Thermoreflectance (TDTR) ermöglicht die präzise Bestimmung thermischer Leitfähigkeiten und Grenzflächenwiderstände in dünnen Schichten und nanoskaligen Materialien. Durch die ultraschnelle laserbasierte Messmethode können selbst extrem kleine Wärmetransporte zeitlich aufgelöst und materialabhängige Eigenschaften eindeutig charakterisiert werden. TDTR ist damit ein zentrales Werkzeug, um das thermische Verhalten moderner Mikro- und Nanostrukturen zu verstehen und für leistungsfähige, zuverlässige elektronische Systeme zu optimieren.