Topographisch / Morphologische Oberflächencharakterisierung
Fokus:
3D-Geometrie, Kontur, Rauheit, Oberflächenstruktur
- 2D/3D-Topographiemessung - von Makro bis Nano
- Rauheits- und Welligkeitsmessung
- Mikro- und Nanostrukturvisualisierung
- Defekt- und Oberflächenmorphologie
Typische Methoden:
- AFM – Atomic Force Microscopy
- 3D-Topographie im Nanometerbereich
- SEM – Rasterelektronenmikroskopie
- Mikrostrukturen, Oberflächenmorphologie
- Konfokale Mikroskopie
- hochauflösende 3D-Oberflächenmessung
- Taktile Rauheits- und Konturmesssysteme
- Rauheit, Welligkeit, Kontur
