Labor für Rasterelektronenmikroskopie (REM / H-REM / FIB-REM)

Im Bereich Elektronenmikroskopie liegt unsere Stärke in der detaillierten Oberflächen- und Gefügecharakterisierung bis in den Nanometerbereich. Mit High-End FE-REM- und Dual-Beam-Systemen, Multidetektoren (SE, BSE, EBSD, EDX, SIMS u. a.) und modularen Erweiterungen wie Nanoindenter, Heiz- und Kryomodule oder AFM ermöglichen wir Analysen und In-situ-Experimente auf höchstem Niveau. TEM-Folien und Mikroproben werden direkt im Haus präpariert.

• High-End REM-Systeme (Zeiss EVO MA25®, Gemini® 450, CrossBeam® 340/550 mit FIB) für Analysen bis in den Nanometerbereich.
• Vielseitige Module: Zug/Druck/Biege, Nanoindenter, Heiz-/Kryo-Module, AFM.
• Multidetektoren & Analytik: SE, BSE, STEM, EBSD/TKD, EDX/WDX, SIMS.
• Präzise Probenpräparation: TEM-Folien, Atomsondenspitzen, Mikroproben, Flatmilling, Bedampfung.

👉 Alles aus einer Hand – modernste Elektronenmikroskopie für maximale Detailtiefe.